
湿法、ICP、DRIE、IBE、RIE 与灰化,选择性去除材料、完成图形转移。
用物理的、化学的或同时使用化学和物理的方法,有选择地把没有被抗蚀剂掩蔽的那一部分材料去除,从而得到和抗蚀剂一致的图形,实现图形转移。
按材料与图形定义可重复窗口。
进口机台,兼容 8 英寸及以下。
关键尺寸与形貌可闭环。
单步、分段或整线代工。
NDA 与封闭式产线。
| 湿法腐蚀 | 碱怿 KOH、TMAH、金腐蚀;酸怿 HF、BOE、HCl、HNO3、H2SO4、HAc |
|---|---|
| 光刻胶剥离 | 丙酮,异丙醇 |
| ICP 刻蚀(电感耦合等离子刻蚀: | GaN,GaAs,InP |
| 深硅刻蚀 DRIE | 刻蚀均匀性 <±5%,选择比>50:1 |
| 深氧化硅刻蚀 | 石英,玻璃,硅;刻蚀形貌: 0°±1° |
| IBE 刻蚀(离子束刻蚀: | 用于较难刻蚀的金属或其他物质 |
| RIE 刻蚀(反应离子刻蚀: | Si,SiO₂,SiNx |
| Plasma(灰化) | 光刻胶,PI(聚酰亚胺) |
MEMS 高深宽比、金属图形化与化合物台面。
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