
电性、光电、形貌与可靠性测试,支持工程批筛选。
JEOL 冷场 SEM、奥林巴斯激光共聚焦、Cascade 高低温探针、PerkinElmer 分光与 NIKON X 光,覆盖出厂全项。
按材料与图形定义可重复窗口。
进口机台,兼容 8 英寸及以下。
关键尺寸与形貌可闭环。
单步、分段或整线代工。
NDA 与封闭式产线。
| 形貌 | JEOL SEM / ZEISS |
|---|---|
| 三维 | 激光共聚焦 |
| 电学 | Cascade 探针台 |
| 缺陷 | NIKON X 兿 |
工艺监控、失效分析与出厂筛选。
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